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標題:Leeb436手持式表面粗糙度測量儀
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技術參數

項目

Leeb436

測量范圍

Z軸(垂直)

320μm(Ra=30μm)

X軸(水平)

17.5mm

分辨率

Z軸(垂直)

0.01μm/±20μm

0.02μm/±40μm

0.04μm/±80μm

0.08μm/±160μm

測量項目

參數

Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、RS、RSm、Rz(JIS)、Ry(JIS)、RSk、R3z、Rmax、Rpc、Rmr、Rku、RΔa、RΔq、Rδc、Ry;

Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、A1、A2、V0;

標準

ISO,ANSI,DIN,JIS

圖形

粗糙度輪廓,支承率曲線,直接輪廓

濾波器

RC,PC-RC,Gauss,D-P

取樣長度(lr)

0.25,0.8,2.5mm

評定長度(ln)

Ln= lr×n    n=1~5

傳感器

測量原理

位移式差動電感

觸針

天然金剛石,90錐角,5μm針尖半徑

測力

<4mN

導頭

紅寶石,滑行方向半徑40mm

滑行速度

lr=0.25,   Vt=0.15mm/s

lr=0.8,    Vt=0. 5mm/s

lr=2. 5,    Vt=1mm/s

返回      Vt=1mm/s

示值誤差

不大于±10%

示值變動性

不大于6%

電源

內置鋰聚合物充電電池,用8.4V,800mA充電器充電

外形尺寸

112×50×47mm

重量

約360g

標準配置

主機、標準傳感器、多刻線樣板、樣板支架、活動支架,遙控器、電源適配器、儀器箱

選配件

可選配簡易平臺

 

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